基于改进Radon变换的芯片几何特征检测

• 作者: 孔华锋 胡东红 鲁宏伟
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: Radon变换 直线检测 图像处理 模式识别
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 人工智能及识别技术
• 页码范围: 210-211,240
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 3066字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.10.076

摘要

在分析芯片几何特征检测的基础上,根据Radon变换的基本思想,提出一种用于芯片几何特征检测的改进Radon变换算法,对该算法在矩形芯片边界直线的检测过程中确定边界直线、剔除干扰和加快速度的具体应用进行了研究.试验结果表明,与传统算法相比,该算法可以有效提高识别效率30%,同时具有鲁棒性好及检测结果准确等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡东红	湖北大学物理学与电子技术学院	26	168	7.0	12.0
2	鲁宏伟	华中科技大学计算机科学与技术学院	53	548	12.0	22.0
3	孔华锋	华中科技大学计算机科学与技术学院	15	160	6.0	12.0