Si纳米线的Au催化固-液-固生长与结构表征

• 作者: 彭英才 白振华 范志东 马蕾
• 来源期刊: 河北大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: Si纳米线 Au催化 热退火 固-液-固生长 结构表征
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 357-360
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 1276字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1565.2009.04.006

摘要

为:Au膜层厚度为5～10 nm,温度为1 100 ℃,N2气流量为1.5 L/min.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马蕾	河北大学电子信息工程学院	43	157	8.0	10.0
2	彭英才	河北大学电子信息工程学院	103	593	12.0	19.0
3	范志东	河北大学电子信息工程学院	14	41	4.0	6.0
4	白振华	河北大学电子信息工程学院	5	14	2.0	3.0