光学线扫描检测系统用于伪粒子分析

• 作者: Jin - Luh MOU 乔林锁(译) 李峰(校)
• 来源期刊: 现代冶金（内蒙古）
• 学科: 工学
• 关键词: 伪粒子 铁矿烧结工艺 线扫描
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP393.08

摘要

采用光学线扫描技术开发了用于伪粒子尺寸分析的仪器，此系统主要由四个模块组成，即原料输入模块，图象获取模块，图像处理模块和控制模块。这个系统的主要优点是全分析中没有粒子的重复与遗漏，伪粒子剥离不破坏粒子结构，可以获取伪粒子尺寸分布范围，主要尺寸，圆度及椭圆度和均一性等信息。这是一个功能强大的用于任何小粒子分析的仪器。