532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究

• 作者: 周冰 姜楠 李刚 毛少娟 沈学举 沈洪斌
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 激光辐照 破坏机理 CCD探测器 光电对抗
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1449-1454
• 页数: 6页
• 分类号: TN249
• 字数: 2483字
• 语种: 中文

摘要

采用532 nm,10 ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验,对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析,根据实验现象,把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段:第1阶段在低能量密度激光辐照下,被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点,但其它部分仍可正常成像;第2阶段CCD探测器受到激光辐照后,在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线,亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复;第3阶段受高能量密度激光辐照后,CCD完全失效,无法恢复成像.针对CCD的饱和及恢复阶段,利用Matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理,分析了激光辐照CCD对饱和像元数和对比度的影响.结果表明:当CCD受到激光辐照时,饱和像元数迅速增多,图像对比度迅速下降为零,激光脉冲消失后,整个CCD成像亮度下降,饱和像元数迅速下降为零,经过一段时间后CCD又恢复至线性工作状态,激光的能量密度越高,CCD恢复所需的时间就越长.研究还发现:当恢复时间超过0.6 s,CCD出现不可恢复的白色条带,严重影响成像质量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈洪斌	军械工程学院光学与电子工程系	48	218	8.0	11.0
2	李刚	军械工程学院光学与电子工程系	111	584	12.0	16.0
3	周冰	军械工程学院光学与电子工程系	44	468	12.0	20.0
4	沈学举	军械工程学院光学与电子工程系	78	366	10.0	14.0
5	毛少娟	军械工程学院光学与电子工程系	19	101	6.0	9.0
6	姜楠	军械工程学院光学与电子工程系	7	71	4.0	7.0