利用过采样技术提高ADC测量微弱信号时的分辨率

• 作者: 何峰 张丽君 李刚 林凌
• 来源期刊: 纳米技术与精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 成形函数 过采样 高精度 微弱信号检测 高分辨率
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 精密测量
• 页码范围: 71-75
• 页数: 5页
• 分类号: TP271.81
• 字数: 3200字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6030.2009.01.015

摘要

为了提高现有模数转换器(analog-to-digital conveaer,ADC)检测微弱信号的能力,简化系统电路和降低生产成本.在充分利用ADC采样速度的条件下,通过过采样技术来提高ADC的分辨率,并且采用叠加成形函数的方法,实现了对微弱信号的检测.理论分析了不同情况下成形函数带来的误差、成形函数的使用条件和减少其带来的误差的方法.实验结果表明,用常规中分辨率ADC直接采样,就可以达到与现有高分辨率ADC直接采样才有的高精度;而使用叠加成形函数后的过采样技术,其效果更佳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李刚	天津大学生物医学信息检测与处理实验室	489	5177	33.0	54.0
2	林凌	天津大学生物医学信息检测与处理实验室	236	3004	25.0	44.0
3	张丽君	天津大学生物医学信息检测与处理实验室	10	198	6.0	10.0
4	何峰	天津大学生物医学信息检测与处理实验室	31	309	11.0	17.0