篇名 | Multiple-bit Upset Induced by Swift Heavy Ions in SRAM | ||
来源期刊 | 近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版 | 学科 | 工学 |
关键词 | 多比特 SRAM 快重离子 诱导 翻转 单粒子效应 高能粒子 错误检测 | ||
年,卷(期) | jdwlyjshlzzlzjsqsysnbywb_2009,(1) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 112-113 | |
页数 | 2页 | 分类号 | TN972.3 |
字数 | 语种 | 中文 | |
DOI |