基于March X算法的SRAM BIST的设计

• 作者: 冯国臣 刘春燕 沈绪榜
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: SRAM 测试 March算法 BIST
• 年，卷（期）: 2005,（12）
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2005.12.012

摘要

针对LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模块,讨论了基于March X算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生:完成了基于March X算法的BIST电路的设计.128kb SRAM BIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜		152	962	15.0	25.0
2	刘春燕		2	15	2.0	2.0
3	冯国臣		8	66	4.0	8.0