基于MARCH算法的SRAM内建自测试设计

• 作者: 张小锋 张铜 成本茂
• 来源期刊: 计算机与现代化
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 MARCH算法 QautusⅡ9.0
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 计算机仿真
• 页码范围: 99-101
• 页数: 3页
• 分类号: TP206
• 字数: 1543字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2475.2013.08.025

摘要

随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节.由于片上系统的快速发展,ATE的速度及其存储量已经不能满足测试的要求,因此出现了内建自测试技术.本研究的主要目的是实现一个对32个单元、每个单元8比特大小的SRAM测试的BIST,采用的测试方法为MARCH算法.在设计中采用的是Verilog语言,用QautusⅡ9.0软件对设计进行仿真,并对仿真结果进行分析判断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张小锋	南昌航空大学信息与工程学院	36	172	7.0	10.0
2	张铜	南昌航空大学信息与工程学院	1	5	1.0	1.0
3	成本茂	南昌航空大学信息与工程学院	1	5	1.0	1.0