基于March C+算法的RAM内建自测试设计

• 作者: 刘兴辉 孙守英 程宇
• 来源期刊: 辽宁大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: perl语言 March C+算法 HSC32K1芯片 内建自测试
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 物理与工程
• 页码范围: 125-128
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2357字
• 语种: 中文

摘要

为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用MbistArchitect工具自动产生MarchC+算法,生成时间只需要3.5s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率.仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果.该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘兴辉	辽宁大学物理学院	36	128	6.0	10.0
2	程宇	辽宁大学物理学院	2	3	1.0	1.0
3	孙守英	辽宁大学物理学院	2	3	1.0	1.0