SoC中嵌入式SRAM的BIST测试方法研究

• 作者: 张力 罗胜钦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式SRAM存储器 内建自测试 March算法
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TP302.2
• 字数: 3845字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.11.007

摘要

随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(System on a Chip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要.文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bit SRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera-EP1S25上实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张力	同济大学电信学院	19	240	11.0	15.0
2	罗胜钦	同济大学电信学院	28	163	6.0	11.0