基于March C+算法的Memory BIST设计与实现

• 作者: 宋明歆 殷景华 翟明静 郭喜俊
• 来源期刊: 哈尔滨商业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: March C+算法 嵌入式存储器 BIST SoC
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 信息与自动化技术
• 页码范围: 549-552
• 页数: 4页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 2429字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-0946.2009.05.010

摘要

随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于March C+算法的BIST的设计与实现,并对BIST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100%、测试时间为35.546ms.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷景华	哈尔滨理工大学应用科学学院	74	301	9.0	12.0
2	宋明歆	哈尔滨理工大学应用科学学院	19	51	4.0	6.0
3	翟明静	哈尔滨理工大学应用科学学院	2	7	2.0	2.0
7	郭喜俊	哈尔滨理工大学应用科学学院	2	7	2.0	2.0