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摘要:
光子能带隙结构能够有效解决高频(0.4 GHz以上)的电源完整性问题,去耦电容能有效解决低频(0.4 GHz以下)的电源完整性问题.文章介绍了一种结合光子能带隙结构和去耦电容解决电源完整性问题的方法,并利用Ansoft公司Siwave软件仿真分析.
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文献信息
篇名 一种有效解决较宽频带电源完整性问题的方法
来源期刊 印制电路信息 学科 工学
关键词 电源完整性 去耦电容 光子能带隙结构
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 CAD/CAM
研究方向 页码范围 27-29
页数 3页 分类号 TN41
字数 2065字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-0096.2009.05.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蔺安坤 西安电子科技大学机电工程学院 7 25 3.0 5.0
2 易利 西安电子科技大学机电工程学院 8 26 3.0 5.0
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2013(1)
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研究主题发展历程
节点文献
电源完整性
去耦电容
光子能带隙结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印制电路信息
月刊
1009-0096
31-1791/TN
大16开
上海市闽行区都会路2338号95号楼CPCA大厦2楼
1993
chi
出版文献量(篇)
5458
总下载数(次)
19
总被引数(次)
10164
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