铁电薄膜电滞回线测量的快速数值补偿方法研究

• 作者: 崔岩 王兢 董维杰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电滞回线 铁电薄膜 数值补偿 Sawyer-Tower
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 2557-2560
• 页数: 4页
• 分类号: TP274|O484.5
• 字数: 1951字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2009.11.036

摘要

测量铁电薄膜电滞回线必须补偿漏电阻和线性电容的影响.本文采用Sawyer-Tower改进电路,分析了在正弦激励电场下漏电阻和线性电容对自发极化的影响,指出二者分别关于饱和极化点奇对称和偶对称;利用正峰值饱和极化点及其前后相邻两点共3对激励电压和极化电压,推导出漏电阻和线性电容计算公式,进而可实现电滞回线快速数值补偿.本算法漏电阻和线性电容的计算时间仅为二分法用时的2%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董维杰	大连理工大学电子与信息工程学院	80	585	12.0	20.0
5	崔岩	大连理工大学辽宁省微纳米技术及系统重点实验室	59	332	10.0	16.0
6	王兢	大连理工大学电子与信息工程学院	81	398	9.0	14.0