基于Single—Sequence布图规划线长约束问题的研究

• 作者: 刘陈 周永翔
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: VLSI 布图规划 模拟退火 Single—Sequence 线长 特征尺寸
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 247-250
• 页数: 4页
• 分类号: TP18

摘要

布图规划是VLSI设计中非常重要的步骤。Single—Sequenc是一种非常有用的表示布图的编码方法。在实际的布图规划中，由于线长对芯片性能有较大的影响，因此为了使芯片的整体性能达到最优，考虑线长因素，使线长尽可能短。该论文提出了在用模拟退火算法寻求最优布图的同时，通过对算法加以改进，考虑线长约束条件，有效地解决了布图规划的线长约束问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘陈		48	364	6.0	18.0
2	周永翔		2	0	0.0	0.0