纳米材料的几种扫描探针显微表征方法

• 作者: 褚宏祥
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 物理学
• 关键词: 材料表征 扫描探针显微镜(SPM) 扫描隧道显微镜(STM) 原子力显微镜(AFM) 近场扫描光学显微镜(SNOM)
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 光电器件与材料
• 页码范围: 27-29,43
• 页数: 4页
• 分类号: O434.14
• 字数: 3680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2009.05.008

摘要

扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法, 展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用.