泰伯效应对激光并行共焦显微系统成像影响的研究

• 作者: 余卿 余晓芬 程伶俐 马丈平
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 泰伯效应 微透镜阵列 正焦像面 离焦像面
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1271-1274
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2396字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2009.06.029

摘要

激光并行共焦显微系统采用微透镜阵列作为分光器件,将会不可避免地引入泰伯效应,造成沿光轴方向的多次成像.形成的这些像面中有且只有一个是正焦像面,它不仅没有边缘效应、能量更加集中,而且可以有效提高系统的测量分辨率.如何寻找正焦像面是削弱泰伯效应对测量影响的关键.实验中发现,通过增大微透镜阵列光栅常数可以增大泰伯距离,从而减弱离焦像面对测量的影响;并且设计了一种识别正、离焦像面的方法,能够准确找到正焦像面,保证了系统的测量分辨率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余卿	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	9	57	4.0	7.0
2	余晓芬	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	97	756	14.0	22.0
3	程伶俐	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	9	38	3.0	6.0
4	马丈平	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	1	16	1.0	1.0