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牛津X-Strata980实现痕量元素分析及镀层厚度测量
牛津X-Strata980实现痕量元素分析及镀层厚度测量
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摘要：
推荐文章
镀层厚度的X射线衍射法测量
镀层厚度
X射线衍射
无损测量
化学镀
腐蚀防护中两种镀层厚度测量方法的优劣探讨
归一化计数率
x射线荧光
样品制备
比率采样法在镀层厚度测量中的应用
比率采样
厚度测量
镀层
线性化
V/F转换
单片机
EDXRF法测定铀上铝镀层厚度
无损测定
铀
镀层厚度
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期刊影响力
电子质量
主办单位：
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期：
月刊
ISSN：
1003-0107
CN：
44-1038/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号：
46-39
创刊时间：
1980
语种：
chi
出版文献量（篇）
7058
总下载数（次）
32
总被引数（次）
15176
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