基于FPGA的同步动态随机存储器测试仪的实现

• 作者: 何明华 陈康
• 来源期刊: 贵州大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: SDRAM FPGA VHDL 时序约束 工作电压
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 工程技术科学研究及应用
• 页码范围: 91-95
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 字数: 3194字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5269.2009.06.025

摘要

针对动态同步存储器在高速运行时出现的读写错误,设计了一种自动测试仪,允许自动改变电压,自动调整同步内存的参数,通过大量数据读写内存来确定故障芯片对哪种参数比较敏感,从而确定测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈康	福州大学电气工程学院	13	10	1.0	2.0
2	何明华	福州大学电气工程学院	63	217	7.0	13.0