浅述PCB电性测试设备的发展趋势

• 作者: 侯育
• 来源期刊: 印制电路信息
• 学科: 工学
• 关键词: 光板 电性测试技术 测试设备原理 测试设备发展趋势 技术瓶颈
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 355-362
• 分类号: TN41
• 字数: 5113字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0096.2009.z1.051

摘要

新的封装技术以及新的工艺将逐步在PCB的制程上使用,PCB的电性能测试将显得格外重要,本文介绍了现阶段PCB电性能测试技术的发展和分类,PCB电性能测试技术和测试设备的现状,未来PCB测试设备的发展方向以及测试设备急需突破的技术瓶颈.

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序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯育		1	2	1.0	1.0