数据通路的开发差错检测技术

• 作者: 印杰 杨东虎
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 数据通路 高层综合 容错 并发差错检测 寄存器传输级
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TP331.1
• 字数: 3064字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.12.009

摘要

随着芯片密度的不断增加和对可靠性要求的不断提高,嵌入式系统的容错设计越来越受到关注.直接的复制比较策略将导致大量的硬件开销,而实现故障保险的数据通路可以增加硬件的共享.文章对近年来数据通路的RTI,级的并发差错检测技术进行了分析和比较:研究结果表明,故漳保险的方法和内省方法应该是优先考虑的并发差错检测方法,而半并发差错检测方法和算法级重计算方法主要应用于对硬件要求严格,而对时间和差错检测能力要求较低的时候.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	印杰		4	21	2.0	4.0
2	杨东虎		1	0	0.0	0.0