"申威-1号"高性能微处理器的功能验证

• 作者: 吴志勇 巨鹏锦 朱英 陈诚 黄永勤
• 来源期刊: 软件学报
• 学科: 工学
• 关键词: 功能验证 伪随机测试激励 功能覆盖率 参考模型 实时比较
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 操作系统
• 页码范围: 1077-1086
• 页数: 10页
• 分类号: TP302
• 字数: 8508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1601.2009.03602

摘要

微处理器设计日趋复杂,如何对微处理器设计进行有效而充分的验证,成为芯片流片成功的关键因素之一.在介绍微处理器功能验证的一般理论和方法的基础上,介绍了"申威-1号"高性能微处理器的功能验证所采用的验证策略及各种验证方法.RTL(register transfer level)级验证是功能验证的重点,模拟验证是"申威-1号"RTL级验证的主要验证手段.详细介绍了如何综合采用多种验证技术来解决RTL级模拟验证的几个关键问题:高质量测试激励生成、模拟结果正确性的快速判断以及验证覆盖率目标的实现.最后对各种验证方法所取得的验证效果进行了分析.