压电陶瓷管的微位移测量与非线性校正

• 作者: 宋志杨 崔岩 董维杰
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 压电陶瓷管 涡流位移传感器 位移测量 非线性校正 虚拟仪器
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 微纳技术与精密机械
• 页码范围: 2212-2217
• 页数: 6页
• 分类号: TN384|TB92
• 字数: 1838字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2009.09.021

摘要

为了对原子力显微镜(AFM)中压电陶瓷管扫描位移进行非线性校正,提出了一种微位移测量与校正的简易方法.采用涡流位移传感器测量微位移,将其放大100倍以提高检测灵敏度;得到了压电陶瓷管的位移-电压曲线,其最高位移分辨率计算值为0.4 nm.根据AFM中压电陶瓷管的工作特点,确定扫描范围下测量得到的位移-电压关系,通过对等间隔像素点施加对应的非等间隔控制电压序列的方法进行非线性校正,依据像素点精度要求通过插值算法获得控制电压序列.系统采用LabVIEW虚拟仪器技术,校正后压电陶瓷管最大位移滞回偏差从10.1%降为0.4%.实验表明:扫描频率和扫描像素分辨率调节方便,同时校正算法复杂度也有所降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	董维杰	大连理工大学电子与信息工程学院	80	585	12.0	20.0
2	宋志杨	大连理工大学电子与信息工程学院	1	12	1.0	1.0
3	崔岩		1	12	1.0	1.0