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摘要:
通过搭建的剪切压电陶瓷块微位移测量系统,进行了5个不同目标电压的剪切压电陶瓷微位移测量实验,对实验数据分别进行二阶、三阶、四阶最小二乘拟合后进行非线性修正实验,其中采用三阶最小二乘拟合进行修正时效果最好,其位移1050 nm行程时最大非线性误差为3nm.对所得三阶最小二乘拟合多项式的系数进行样条插值拟合,从而实现对不同目标位移的非线性修正,其中位移900 nm行程时最大非线性误差为4nm,仅为原始非线性误差的11%.
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文献信息
篇名 剪切压电陶瓷块微位移测量及非线性修正
来源期刊 计量学报 学科 工学
关键词 计量学 微位移测量 剪切压电陶瓷块 最小二乘拟合 样条插值拟合 非线性修正
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 553-558
页数 6页 分类号 TB92
字数 2242字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.06.01
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈本永 浙江理工大学机械与自动控制学院 63 361 11.0 17.0
2 高思田 93 567 11.0 19.0
3 李琪 21 48 4.0 5.0
4 徐胜 浙江理工大学机械与自动控制学院 1 2 1.0 1.0
5 石书丽 北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院 1 2 1.0 1.0
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计量学
微位移测量
剪切压电陶瓷块
最小二乘拟合
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非线性修正
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