故障芯片测试中功能模块划分方法研究

• 作者: 蒋向辉
• 来源期刊: 制造业自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片故障检测,未知结构 功能划分 触发延时 有序真值表
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 检测与监控
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TN453
• 字数: 4227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0134.2009.05.025

摘要

在未知结构的芯片故障检测方法中,将芯片按功能进行分块测试是一种有效的方式.重点研究了根据芯片正常工作的状态信号,按逻辑功能进行分块的方法.提出了基于芯片内部触发延时统计规律和基于有序真值表推演的两种划分方案.分析和讨论了两种不同的实现方案技术原理、适应场合及优缺点.最后进行了实现及测试,测试结果表明后一种方案划分的正确率更高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋向辉		14	53	4.0	6.0