面向逻辑设计的SDRAM控制器性能度量模型

• 作者: 余美强 潘光荣 王沁 齐悦
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: SDRAM控制器 性能度量 逻辑设计 片上系统 IP核 AMBA总线
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 3432-3435
• 页数: 4页
• 分类号: TP393
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2009.09.065

摘要

IP核,以及评估SoC系统中一些其他IP核的性能.依据模型给出的量化分析信息,对优化设计具有启发性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王沁	北京科技大学信息工程学院	145	1212	18.0	29.0
2	齐悦	北京科技大学信息工程学院	15	63	5.0	7.0
3	潘光荣	北京科技大学信息工程学院	4	14	2.0	3.0
4	余美强	北京科技大学信息工程学院	1	8	1.0	1.0