让稳定成为必然邀金邦科技副总解析内存DBT动态高温老化测试(下)

• 作者: 袁怡男
• 来源期刊: 微型计算机
• 年，卷（期）: 2009,（13）
• 所属期刊栏目: 趋势与技术
• 页码范围: 156-157
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

在上期,我们一起了解了为什么要对内存进行高温老化测试.那么,金邦DBT动态高温老化测试的详细流程是怎样的?要使用哪些设备,如何来进行动态高温老化测试呢?本期我们继续关注.