基于重构技术的电路故障测试诊断研究

• 作者: 韦艳珍
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: 重构 测试 信号
• 年，卷（期）: 2009,（3X）
• 页码范围: 2437-2438
• 页数: 2页
• 分类号: TN707

摘要

对重构技术的基本原理进行创新和发展,将重构技术与故障电路系统的检测相结合,提出了一种可行的电路系统故障检测方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦艳珍		4	3	1.0	1.0