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纳米计量的溯源与传递
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摘要：
介绍了纳米计量溯源到国际基本单位制(SI)的传递过程.回顾了国内外计量型扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的工作原理及其溯源性.论述了目前主要纳米计量参数、溯源用标准样本的研究概况.
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主办单位：
中国航天科技集团公司一院102所
二院203所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1000-7202
CN：
11-2052/V
开本：
大16开
出版地：
北京142信箱408分箱
邮发代号：
18-123
创刊时间：
1981
语种：
chi
出版文献量（篇）
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