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摘要:
文中通过台阶实验的数据结合光刻胶光栅掩模的槽形,得到光刻胶特性参数,利用这些参数可以模拟出任一曝光量,任一显影时间,任一空频下,光栅掩模的槽形.为今后制作符合要求的光栅提供有力依据.
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文献信息
篇名 光刻胶特性曲线参数测量的新方法
来源期刊 物理与工程 学科 物理学
关键词 光刻胶 台阶实验 光栅掩模 特性参数
年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29-32
页数 分类号 O4
字数 2066字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-7104.2010.04.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张洪波 7 21 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
光刻胶
台阶实验
光栅掩模
特性参数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理与工程
双月刊
1009-7104
11-4483/O3
大16开
北京市海淀区清华大学学研大厦B座6层《物理与工程》编辑部
82-250
1981
chi
出版文献量(篇)
2772
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9
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8986
论文1v1指导