循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现

• 作者: 李倩 杨东 杨菊瑾
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 循环冗余校验(CRC) 多项式 异或 移位
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 21-22,26
• 分类号: TN4
• 字数: 1147字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2010.06.008

摘要

循环冗余校验,即CRC(Cyclic Redundancy Check).循环冗余校验的编码方法简单,检错能力强,误判概率低,是数据传输中常用的重要校验方法之一.着重介绍了循环冗余校验的基本原理,并举例说明了循环冗余校验在集成电路设计中的具体实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李倩	中国电子科技集团公司第四十七研究所	10	37	3.0	6.0
2	杨东	中国电子科技集团公司第四十七研究所	13	17	2.0	4.0
3	杨菊瑾	中国电子科技集团公司第四十七研究所	4	8	2.0	2.0