基于CPLD的新型数字集成芯片检测仪设计

• 作者: 唐颖 黄河
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 状态检测 ARM 芯片检测 接口扩展
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 37-38,68
• 分类号: TN707
• 字数: 2090字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2010.07.013

摘要

主要介绍了基于CPLD技术设计了新型数字集成芯片检测仪的设计,采用ARM控制芯片LPC2136完成端口检测状态和上位机测试矢量的收集,通过USB接口与上位机通信,在线或离线对常用数字集成芯片的型号做识别、故障分析和定位.该系统扩展性强,既可对未知型号芯片进行检测,也可对逻辑电平进行检测,应用灵活而广泛.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄河	东华理工大学长江学院信息工程系	9	25	3.0	5.0
2	唐颖	成都理工大学信息工程学院电子信息工程系	30	158	5.0	11.0