基于STIL语言的大规模数字集成电路测试软件设计

• 作者: 戚瑞民 汪若虚 黄从开
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: STIL VPP 函数 接口
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 69-79
• 页数: 11页
• 分类号: TM935.37
• 字数: 6318字
• 语种: 中文

摘要

该文介绍了基于STIL语言的大规模数字集成电路测试软件的设计方法。给出了软件结构框架、功能模块设计要求与设计方法，测试编程向量的数据转换方法，测试接口函数的定义等，采用 STIL语言的测试软件已成功应用于某型高速数字芯片测试系统中。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄从开	中国电子科技集团公司第四十一研究所	4	27	2.0	4.0
3	汪若虚	中国电子科技集团公司第四十一研究所	4	12	2.0	3.0
5	戚瑞民	中国电子科技集团公司第四十一研究所	2	3	1.0	1.0