Gamma过程退化失效可靠性分析

• 作者: 孙中泉 赵建印
• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 退化失效 Gamma过程
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 581-584
• 分类号: TB114.3
• 字数: 3597字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1522.2010.05.024

摘要

退化型失效产品,可通过退化失效分析对其进行可靠性统计推断.性能退化一般是一个随机过程,并且是单调变化的,为描述产品的退化,给出了一个随机Gamma过程模型,通过求解该过程的首达时分布即可获得产品的失效分布.由于解析方法求解存在很大的难度,给出了一种基于仿真的求解方法.利用所得模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,说明了模型的适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙中泉	海军航空工程学院科研部	14	122	6.0	11.0
2	赵建印	海军航空工程学院兵器科学与技术系	31	206	8.0	13.0