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摘要:
针对SG-Ⅲ精密光学元件表面洁净度检测特点,提出了基于机器视觉的检测方案.设计了三维电控平台和夹持架,选用步进电机和光栅尺实现闭环高精度控制,采用线阵CCD作为图像采集设备,选用卤素灯作为光源,利用图像处理技术得到污染物的特征参数.对340mm*340mm的光学元件测试表明,检测仪能在11分钟内完成单面扫描和分析,识别15μm以上的污染物,大大提高了检测效率.该技术可应用于多种精密表面检测项目.
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文献信息
篇名 基于机器视觉的光学元件表面洁净度检测仪研制
来源期刊 现代科学仪器 学科 工学
关键词 光学元件 洁净度检测 线阵CCD 机器视觉
年,卷(期) 2010,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 17-20
页数 分类号 TP399|TH89
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢志江 重庆大学机械传动国家重点实验室 159 1375 19.0 29.0
2 楚红雨 重庆大学机械传动国家重点实验室 28 110 6.0 8.0
4 邵延华 西南科技大学信息工程学院 21 74 5.0 7.0
5 刘琴 重庆大学机械传动国家重点实验室 10 48 4.0 6.0
8 米增真 重庆大学机械传动国家重点实验室 1 10 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
光学元件
洁净度检测
线阵CCD
机器视觉
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代科学仪器
双月刊
1003-8892
11-2837/TH
大16开
北京海淀区西三环北路27号理化实验楼512室
1984
chi
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