基于XPS的苹果表皮2种残留农药代谢结构分析

• 作者: 张欣艳 王乐新 苏润洲
• 来源期刊: 河南农业科学
• 学科: 工学
• 关键词: XPS 残留农药 特征元素 代谢结构
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 植物保护
• 页码范围: 76-77,100
• 分类号: TS236
• 字数: 1129字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3268.2010.05.020

摘要

利用X射线光电子能谱(XPS)分析技术,研究了苹果表皮残留的氧乐果和敌敌畏中的特征元素P,解析并对比原药及残留农药中P的化学结构.结果显示,氧乐果中P部分转化为结合能为133.37 eV的O,O,S-三甲基磷酸酯;敌敌畏中P仍以O,O-二甲基-O-(2,2-二氯乙烯基)磷酸酯为主.表明XPS可实现对苹果表皮2种残留农药的结构检测,方法简单、可靠性高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王乐新	黑龙江八一农垦大学文理学院	68	189	6.0	10.0
2	苏润洲	东北林业大学理学院	38	118	5.0	9.0
3	张欣艳	黑龙江八一农垦大学文理学院	38	122	6.0	9.0