动态电子束辐照对散粮中米象和谷蠹的影响

• 作者: 李光涛 温其标 黄曼
• 来源期刊: 现代食品科技
• 学科: 工学
• 关键词: 米象 谷蠹 电子束辐照 粮食
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 1063-1066
• 分类号: TS2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9078.2010.10.007

摘要

本文重点研究了在散粮储存和物流过程中,动态电子束(EB)辐照对米象和谷蠹两种储粮害虫的辐射效应.结果表明,O.3 kGy和0.6 kGy两个剂量条件能有效地预防和控制储粮害虫(P<0.01).在粮食流动作业中,机械因素可能影响到害虫数量,但并不是使米象和谷蠹昆虫死亡的主要原因.米象比谷蠹对电子束辐照更敏感,在0.3 kGy剂量下,60 d检查未发现活的成虫或幼虫,而当剂量为0.6 kGy时,30 d检查的害虫死亡率为100%,无虫卵孵化现象.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温其标	华南理工大学轻工与食品学院	161	2532	28.0	40.0
2	李光涛		19	263	9.0	16.0