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摘要:
本文综述了国内、外立体视觉检测技术和IC芯片视觉检测设备的发展现状,提出了基于条纹结构光的立体视觉检测方法,并将其应用于IC芯片的测量,结合2D视觉,实现了IC芯片的精密检测平台.
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文献信息
篇名 面向IC芯片的精密立体视觉测量检测平台
来源期刊 计算机光盘软件与应用 学科 工学
关键词 立体视觉 机器视觉 自动光学检测 IC芯片检测
年,卷(期) 2010,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 41-41
页数 分类号 TN918.1
字数 1329字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李克天 113 527 12.0 16.0
2 陈金法 4 26 2.0 4.0
3 丁少华 5 403 4.0 5.0
4 欧阳祥波 9 13 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (14)
共引文献  (37)
参考文献  (1)
节点文献
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1973(1)
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1977(1)
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研究主题发展历程
节点文献
立体视觉
机器视觉
自动光学检测
IC芯片检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机光盘软件与应用
半月刊
1007-9599
11-3907/TP
北京市
18-160
1998
chi
出版文献量(篇)
21096
总下载数(次)
62
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