低能He2+入射He原子转移电离实验中出射电子成像研究

• 作者: 冯文天 刘惠萍 孟令杰 张大成 张少峰 张鹏举 朱小龙 李斌 许慎跃 钱东斌 闫顺成 马新文
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 反应显微谱仪 转移电离 电子速度分布 σ振幅和π振幅干涉
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 页码范围: 8471-8477
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

利用反应显微谱仪对70 keV He2+-He转移电离过程中的出射电子进行了成像,研究了出射电子的空间速度分布特征.结果表明:电子主要集中在散射平面内;在散射平面内,电子速度分布介于零与入射离子速度Vp之间(即前向出射)且在散射离子和靶核核间轴处有一极小值,呈现出典型的双峰结构.出射电子的上述分布特征可由出射电子波函数σ振幅和π振幅的干涉进行定性解释,σ振幅和π振幅对出射电子波函数的贡献与碰撞参数相关.在小碰撞参数下,π振幅的贡献更加明显;而在大碰撞参数下,σ振幅的贡献更加显著.