应用于电旋转芯片中电场分析的快速解析算法

• 作者: 于军 周文利 廖红华 王骏 陈建军
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 电旋转芯片 许瓦兹-克里斯托映射 解析解 环形电极
• 年，卷（期）: 2010,（20）
• 页码范围: 22-25
• 分类号: TP391
• 字数: 2585字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2010.20.006

摘要

电旋转技术目前已经成为相对成熟的生物芯片测量技术手段,但是其测量自动程度和测量精度一直是个需要解决的问题.基于许瓦兹-克里斯托(Schwarz-Christoffel Mapping,SCM)映射方法,一种用于电旋转电场分析的快速解析算法被提出.通过该算法的计算结果,电旋转测量的最佳区域被精确地定义.同时,由于该计算方法的精确度较高,而且相对于传统的有限元方法占用更少的计算资源且具有更快的计算速度,可用于电旋转测量数据的实时校正.最后,对该算法计算的结果和有限元方法计算的结果进行比较,两者的数据能够很好地吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于军	华中科技大学电子科学与技术系	103	537	11.0	16.0
2	王骏	华中科技大学电子科学与技术系	23	973	12.0	23.0
3	周文利	华中科技大学电子科学与技术系	29	80	5.0	6.0
4	廖红华	华中科技大学电子科学与技术系	8	19	3.0	3.0
5	陈建军	华中科技大学电子科学与技术系	48	464	10.0	20.0