确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则

• 作者: 刘攀 曾红卫 梅佳 缪淮扣
• 来源期刊: 软件学报
• 学科: 工学
• 关键词: 最小测试成本迁移覆盖准则 成本/效率的平衡 确定性有限状态机 迁移覆盖
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 所属期刊栏目: 系统软件与软件工程
• 页码范围: 1457-1474
• 分类号: TP311
• 字数: 15734字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1001.2011.03872

摘要

软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则,给出了最小测试成本迁移覆盖存在的充分和必要条件,设计了优化迁移覆盖和最小测试成本迁移覆盖的实现算法,并讨论了测试序列集合的有效性问题.在实验中,依据该方法不仅能够获得最小测试成本的测试用例集合,而且同样能够探测出确定性有限状态机中迁移上的错误.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	缪淮扣	上海大学计算机工程与科学学院	100	1030	16.0	26.0
3	曾红卫	上海大学计算机工程与科学学院	31	341	11.0	17.0
7	刘攀	上海大学计算机工程与科学学院	7	55	3.0	7.0
13	梅佳	上海大学计算机工程与科学学院	4	25	3.0	4.0