基于适应度评价扩展自适应遗传算法的门级电路进化设计

• 作者: 严璐 朱晓华 柏磊 顾陈
• 来源期刊: 南京理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电路进化设计 适应度评价扩展 门级电路 自适应遗传算法 可进化硬件
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 页码范围: 240-244
• 分类号: TP18|TN702
• 字数: 3986字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9830.2011.02.018

摘要

针对遗传算法适应度评价阶段指定输出单元容易丢失潜在解的问题,该文提出了一种基于适应度评价扩展的电路进化设计方法.该方法将每个逻辑单元的输出都视为一个潜在的解处理,得到一个最优适应度评价值,避免了潜在解的丢失,有效地提高了自适应遗传算法的性能.通过多种电路的进化设计实验比较了该文方法与传统自适应遗传算法设计的性能,结果表明,该文方法具有收敛速度快、迭代次数少、获得最优解成功概率高的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱晓华	南京理工大学电子工程与光电技术学院	100	974	17.0	23.0
2	柏磊	南京理工大学电子工程与光电技术学院	6	33	4.0	5.0
3	严璐	南京莱斯信息技术股份有限公司智能交通事业部	3	14	2.0	3.0
4	顾陈	南京理工大学电子工程与光电技术学院	18	148	7.0	11.0