微小零件视觉检测系统

• 作者: 丁明 黄传辉
• 来源期刊: 扬州大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 微小零件 损坏芯片 缺陷芯片 模式识别
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 页码范围: 61-65
• 分类号: TN307|TP391.4
• 字数: 3882字
• 语种: 中文

摘要

通过提取芯片图像中暗点、边缘、块数、面积和亮点等5种与芯片位置无关而且相互独立、易于提取的图像特征,建立正态分布模型,利用新识别出的损坏或缺陷芯片自动修正模型参数,提高模型的准确度.基于最小风险贝叶斯模式识别构造出各种损坏和缺陷芯片的分类器,对污损、烧蚀、碎裂和电极缺失芯片的正确识别率可以达到90％以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄传辉		60	209	8.0	11.0
2	丁明		10	10	2.0	2.0