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微系统与中规模器件的封装技术设计
微系统与中规模器件的封装技术设计
作者:
杨建生
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电机封装
MEMS
微系统
封装问题
封装等级
摘要:
文章主要论述了微机电系统(MEMS)和微系统诸如微传感器、驱动器和微流体元件的电机封装技术、封装等级和封装技术相关的问题.首先陈述并讨论了典型的MEMS产品诸如微压传感器、加速度计和微泵;微电子封装和微系统封装技术,重点阐述芯片级封装技术和器件级封装技术问题.芯片级封装技术主要涉及芯片钝化、芯片隔离和芯片压焊;器件级封装技术主要涉及信号转导、丝焊和元件焊接.接着,论述了微系统封装工程技术诸如封装设计、制造、组装和试验.最后列举了微系统封装中的主要问题,包括封装设计标准和方法、封装组装和试验以及微/中元件的接口等.
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相关文献总数
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文献信息
篇名
微系统与中规模器件的封装技术设计
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
电机封装
MEMS
微系统
封装问题
封装等级
年,卷(期)
2011,(5)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
5-9
页数
分类号
TN305.94
字数
4416字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1681-1070.2011.05.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
杨建生
65
67
4.0
5.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
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(1)
同被引文献
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2017(1)
引证文献(1)
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2019(2)
引证文献(0)
二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
电机封装
MEMS
微系统
封装问题
封装等级
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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