屏蔽对电子设备EMC性能影响分析

• 作者: 汪洋 王迎节 聂磊
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 反射损耗 吸收损耗 屏蔽效能 电磁兼容
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 专题技术与工程应用
• 页码范围: 61-64
• 分类号: TN03
• 字数: 2774字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2011.10.020

摘要

针对电磁兼容（Electromagnetic Compatibility,EMC）测试标准对电子设备机箱屏蔽效能的需求,首先从屏蔽机箱的反射损耗与吸收损耗等方面入手,分析了屏蔽机箱的屏蔽效能,描述了如何根据实际使用情况对屏蔽机箱的材料及其厚度进行选择。根据屏蔽机箱实际使用情况,分析了孔洞和缝隙对其屏蔽效能的影响。结合2个电子设备的EMC测试实例,分别描述了如何对屏蔽机箱上的孔洞和缝隙进行处理,从而提高设备的EMC性能。分析并讨论了如何在设计阶段采取措施,通过加强屏蔽,改善设备的EMC性能。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪洋	中国电子科技集团公司第五十四研究所	27	105	5.0	9.0
2	王迎节	中国电子科技集团公司第五十四研究所	5	65	5.0	5.0
3	聂磊	中国电子科技集团公司第五十四研究所	4	48	4.0	4.0