FPGA的空间容错技术研究

• 作者: 周刚 裴志强
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 三模冗余(TMR) 容错 FPGA重构
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 18-20
• 分类号: TN911
• 字数: 3072字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2011.06.006

摘要

基于SRAM的FPGA对于空间粒子辐射非常敏感,很容易产生软故障,所以对基于FPGA的电子系统采取容错措施以防止此类故障的出现非常重要.通过对敏感电路使用三模冗余(TMR)方法并利用FPGA的动态可重构特性,可以有效的增强FPGA的抗单粒子性能,解决FPGA对因空间粒子辐射而形成的软故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴志强	中国电子科技集团公司第四十七研究所	8	48	4.0	6.0
2	周刚	中国电子科技集团公司第四十七研究所	15	25	3.0	4.0