空间单粒子故障容错设计的验证技术研究

• 作者: 段青亚 辛明瑞 黄士坦
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 星载计算机 单粒子故障 SEE SEU SEL SEB
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.11.011

摘要

由于空间环境的特殊性,可靠性成为航天器的重要指标,容错设计在航天关键电子元器件中必不可少.在航天器进入太空之前,为了模拟空间辐射效应,文中采用一种新颖方法对航天关键电子元器件进行单粒子故障注入,同时通过软件配合测试的方式,达到验证其容错结构的目的.采用了该技术的面向空间应用的高性能高可靠32位嵌入式RISC处理器取得了一次流片成功的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	辛明瑞		7	41	5.0	6.0
2	黄士坦	中国航天时代电子公司第七七一研究所	2	12	2.0	2.0
3	段青亚	中国航天时代电子公司第七七一研究所	2	24	2.0	2.0