LED组件寿命评估方法的研究

• 作者: 安国雨 张万生 赵敏
• 来源期刊: 无线电工程
• 学科: 工学
• 关键词: LED组件 平均寿命 测试 指数分布 定时截尾试验
• 年，卷（期）: 2011,（12）
• 所属期刊栏目: 电磁场与微波
• 页码范围: 56-58
• 分类号: TN364.2
• 字数: 2364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3106.2011.12.019

摘要

由于LED技术的飞速发展，其应用产品不断扩大到人们生活的各个方面，因此LED产品盯可靠性问题也日益受到人们的关注。在可靠性工程常用的寿命分布中，指数分布是应用广泛的一种分布，进入偶然失效期以后都可以认为产品失效分布是指数分布。LED产品的寿命试验有定时截尾和定数截尾2种方式，由于定数结尾需要较长的试验时间，因此采用定时截尾的试验方法来获取试验数据。给出了LED组件的寿命评估方法，该方法对LED模块和应用产品同样适用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵敏	中国电子科技集团公司第十三研究所	14	68	4.0	8.0
2	安国雨	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	13	2.0	3.0
3	张万生	中国电子科技集团公司第十三研究所	8	42	2.0	6.0