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摘要:
随着系统级芯片SoC的集成度越来越高,所需的测试数据量呈指数倍增长,针对测试数据量大这一关键问题,提出了一种有效的基于参考向量和纠错码编码的压缩方案,该方案对测试数据进行三步处理:对测试向量进行分块处理;按照特定的团划分方式选出参考向量;利用纠错码和测试数据相容性的特点对测试数据进行编码.提出的编码具有更短的码字,解压电路结构简单,与同类编码方法相比,该编码能将压缩效率提升至80%,并降低成本.
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文献信息
篇名 基于参考向量和纠错编码的测试数据压缩算法
来源期刊 国外电子测量技术 学科 工学
关键词 参考向量 团划分 纠错码 数据压缩
年,卷(期) 2011,(12) 所属期刊栏目 理论与方法
研究方向 页码范围 18-21
页数 分类号 TP302
字数 3006字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8978.2011.12.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陶丽楠 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系 2 6 2.0 2.0
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参考向量
团划分
纠错码
数据压缩
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期刊影响力
国外电子测量技术
月刊
1002-8978
11-2268/TN
大16开
北京东城区北河沿大街79号2楼
82-141
1982
chi
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