X射线应力仪侧倾法测定板材的残余奥氏体含量

• 作者: 巴发海 柴泽
• 来源期刊: 理化检验：物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: X射线应力仪 侧倾法 测试条件 残余奥氏体含量
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 试验技术与方法
• 页码范围: 629-631,636
• 页数: 4页
• 分类号: TG404
• 语种: 中文

摘要

采用X射线应力仪侧倾法对某型板材的残余奥氏体含量进行了测定，研究了测试条件对测定结果的影响。结果表明：不同试样表面状态、不同测试方向和侧倾角度的单次测定结果之间存在较大的差异，因而单次测定结果不适合作为最终测定结果；就不同侧倾角残余奥氏体含量测定结果的平均值而言，试样表面状态对测定结果没有明显的影响．并4用X射线应力仪，采用多个测试方向、较大直径的准直管和多个侧倾角进行残余奥氏体含量测定，可以获得较为均匀一致的残余奥氏体含量平均值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	巴发海		7	0	0.0	0.0
2	柴泽		1	0	0.0	0.0