基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

• 作者: 袁著 马腾
• 来源期刊: 通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高性能DAC芯片 DAC芯片参数 回路测试法 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 154-156
• 分类号: TN707
• 字数: 2099字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0802.2011.02.055

摘要

介绍了一种基于现场可编程门阵列(FPGA,field programmable gate array)的高性能数模转换器(DAC,digitalto analog converter)性能参数的回路测试方法.以FPGA、DAC和模数转换器(ADC,analog to digital converter)等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数.其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3.测试结果表明:测试方法通用性好,精确度高,成本低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁著	电子科技大学电子科学技术研究院	6	19	2.0	4.0
2	马腾	电子科技大学电子科学技术研究院	2	10	1.0	2.0